Vía satsoftware.blogspot.com encontramos este interesante artículo explicando en qué consisten los distintos test que realiza el memtest86+ :
La metodología de un buen test de memoria es la siguiente: escribir todas las direcciones de memoria con patrones generados con un algoritmo específico y volver a leerlos para comprobar la coherencia de los datos.
Test 0: [Address test, walking ones, no cache]. Test de todos los bits direccionables en todos los bancos de memoria usando un patrón de acceso “walking ones”.
Test 1: [Address test, own address]. Cada dirección es escrita con el valor de su propia dirección y luego es probada para detectar diferencias. Este test es complementario y más estricto que el Test 0 y debería detectar todos los errores de direccionamiento.
Test 2: [Moving inversions, ones&zeros]. Este test utiliza el algoritmo Moving inversions con patrones de unos y ceros. Es un test rápido que solamente da errores en subsistemas de memoria muy dañados.
Test 3: [Moving inversions, 8 bit pattern]. Utiliza el algoritmo Moving Inversions diseñado para detectar fallos producidos por interferencia con las células de memoria adyacentes.
Test 4: [Moving inversions, random pattern]. Se utiliza el mismo algoritmo del paso 3 pero el patrón es un número aleatorio (más bien pseudoaleatorio) y su complemento. Es un test muy efectivo para detectar errores de datos, utilizando 60 patrones aleatorios cambiando en cada pasada del test. Por ello múltiples pasadas aumentan la eficacia.
Test 5: [Block move, 64 moves]. Este test prueba la memoria utilizando la instrucción [movsl] y está basado en un antiguo test llamado burnBX de Robert Redelmeier. Experimentalmente es de los test que revelan errores más sutiles.
Test 6: [Moving inversions, 32 bit pat]. Es un test bastante lento pero muy efectivo para detectar errores de datos, ya que hace 32 pasadas para probar todos los patrones.
Test 7: [Random number sequence]. Se escribe una serie de números aleatorios en memoria. Es comprobado y complementado y vuelto a comprobar.
Test 8: [Modulo 20, ones&zeros]. Utiliza el algoritmo Modulo-X, diseñado para evitar interferencia del subsitema de caché que podrían enmascaras algunos errores en tests anteriores. Utiliza patrones de unos y ceros.
Test 9: [Bit fade test, 90 min, 2 patterns]. Se inicializa toda la RAM con un patrón y se deja inactiva 90 minutos, entonces se examina en busca de alguna variación. Se pasa dos veces, una con ceros y otra con unos. Dura 3 horas y no forma parte del test standard, hay que seleccionarlo a mano en el menú.
Una “pasada” consiste en los nueve tests del 0 al 8 y tras acabar vuelve a empezar en un bucle sin fin. Cuanto más tiempo, mayor seguridad. El test 9 se debe seleccionar manualmente, no forma parte de la suite standard.
Los tests 4 y 7, al utilizar números aleatorios, no solo chequean RAM sino también el procesador. por lo que a veces detectan errores de CPU y no de memoria. Ambos tests además, y dada su naturaleza, aumentan su poder de detección con múltiples pasadas.
